2018年第 61 届年度引信会议 评估高 g 元件敏感性的测试方法

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上传者:战必胜
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PUBLIC RELEASE. Cleared by United States Army Armament Research, Development and Engineering Center (ARDEC) for public release under PAO Log No. 401-18 and
402-18 on April 24, 2018.
Test Method to Evaluate High-g
Component Susceptibility
2018 NDIA Fuze Conference
San Diego, CA
Daniel Peairs, Nathan Millard, Triet Dao, Marc Worthington
L3 Defense Electronic Systems
Ericka Amborn, Frank Marso, Craig Doolittle
Applied Research Associates, Inc.
May 2018
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